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用德爾格X-AM5000做高分子材料硫化氫揮發實驗報告
  • 發布日期:2017-08-09      瀏覽次數:310
    • 實驗部分

      (1)德爾格X-am 5000氣體檢測儀(PH3檢測范圍:0-20ppm;分辨率:0.1ppm;響應時間:15s
      (2)分析天平;精度為0.1mg量程
      (3)恒溫烘箱
      (4)250ml,500ml,1000ml磨口瓶
      (5)10ml,20ml小燒杯若干。
      (6)高真空硅脂(封口用)
      (7)去離子水,11兆

      X-AM5100
      實驗操作

      具體操作:1用分析天平準確稱取0.25g阻燃高分子材料樣品,假如10ML小燒杯中,用量筒量取10ml去離子水加入1000ml磨口瓶中,磨口瓶置于70℃恒溫烘箱中,瓶蓋對應放在瓶子旁邊,半小時左右磨口瓶內外溫度基本一致后,在瓶口涂上真空樹脂,加蓋密封好,分別防止揮發1天,2天,3天,4天,5天,6天,7天,8天,9天,10天,然后根據實驗設計的設置時間,取出相應的實驗磨口瓶,冷卻后,用測定儀測量,記錄下測得的數據,取平均值后對應的時間作圖,結果如圖所示,從圖看出,阻燃高分子樣品中硫化氫含量隨揮發時間增加而變大。

      實驗揮發

      實驗評論:為何用德爾格氣體檢測儀X-AM5000而不是PAC7000H2S。

      德爾格外置泵

      該實驗沒有指出是用了泵吸式的X-AM5000,如果用擴散式采集數據,那瓶中的H2S揮發出去較多,影響zui終檢測數據。如果采用泵吸式,因為德爾格儀器反應時間快,能把誤差減少,快速檢測儀器檢測的數據并不是準確,但是能夠反應一個趨勢。

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